X射線產(chǎn)生原理  

膜厚測(cè)試儀X射線的能量穿過金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過這樣的原理，我們?cè)O(shè)計(jì)出：  

膜厚測(cè)試儀原理  

膜厚測(cè)試儀也可稱為膜厚測(cè)量?jī)x，又稱金屬涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應(yīng)環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故目前市場(chǎng)上zui普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。  

在此技術(shù)方面廣大業(yè)界一致認(rèn)同日本精工膜厚測(cè)量?jī)x比較，因其為**臺(tái)膜厚測(cè)量?jī)x的生產(chǎn)商。  

具體介紹為：進(jìn)口日本精工（SFT9100M）X-RAY熒光無(wú)損金屬薄膜電鍍層厚度測(cè)量?jī)x。  

SFT9100M是精工膜厚儀系列中經(jīng)濟(jì)實(shí)用又功能齊全的機(jī)型用途：檢測(cè)金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質(zhì)，減少電鍍成本浪費(fèi)。